ITO薄膜厚度測(cè)量?jī)x 全自動(dòng)膜厚儀臺(tái)式測(cè)厚儀

TO薄膜是一種n型半導(dǎo)體材料，具有高的導(dǎo)電率、高的可見(jiàn)光透過(guò)率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發(fā)光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽(yáng)能電池以及其他電子儀表的透明電極常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導(dǎo)電薄膜方面得到普遍的應(yīng)用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關(guān)系到企業(yè)的生產(chǎn)成本控制，所以對(duì)ITO薄膜厚度的高精度測(cè)量，是企業(yè)必須重視的檢測(cè)項(xiàng)目之一。

濟(jì)南新準(zhǔn)生產(chǎn)的CHY-C2A測(cè)厚儀適用于ITO薄膜厚度測(cè)量采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性，測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差，系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷。 

ITO薄膜厚度測(cè)量?jī)x 全自動(dòng)膜厚儀臺(tái)式測(cè)厚儀 技術(shù)指標(biāo)

測(cè)試范圍 0～2 mm（常規(guī)） 0～6 mm；12 mm（可選）

分辨率 0.1 μm

測(cè)量速度 10 次/min （可調(diào)）

測(cè)試壓力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

進(jìn)樣步距 0～1000 mm

進(jìn)樣速度 0.1～99.9 mm/s

電源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

凈重 32 kg

ITO薄膜厚度測(cè)量?jī)x 全自動(dòng)膜厚儀臺(tái)式測(cè)厚儀 產(chǎn)品配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件、專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭