hustec-2005 半導體分立器件測試系統(tǒng)
華科智源-MOS管測試儀 分立器件檢測儀
基礎(chǔ)配置：
技術(shù)參數(shù) | E |
主極電流 | 100nA-50A |
擴展電流 | 100A、500A、1000A、1300A |
電壓分辨率 | 1mV |
電流分辨率 | 1nA(可擴展至10pA) |
測試精度 | 0.2%+2LSB |
測試速度 | 0.5mS/參數(shù) |
分立器件測試儀測試參數(shù)：華科智源-MOS管測試儀 分立器件檢測儀
漏電參數(shù)：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、 IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數(shù)：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、 BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益參數(shù)：hFE、CTR、gFS、
導通參數(shù)：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO (Regulator)、IIN(Regulator)
混合參數(shù)：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
關(guān)斷參數(shù)：VGSOFF
觸發(fā)參數(shù)：IGT、VGT
保持參數(shù)：IH、IH+、IH-
鎖定參數(shù)：IL、IL+、IL-
分立器件測試儀系統(tǒng)特征：華科智源-MOS管測試儀 分立器件檢測儀
● 測試范圍廣（19大類，27分類）
● 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300uS
● 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試，確保被測器件不受損壞
● 真正的動態(tài)跨導測試。（主流的直流方法測動態(tài)跨導，其結(jié)果與器件實際值偏差很大）
● 系統(tǒng)故障在線判斷修復能力，便于應急處理排除故障
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