AFM 高速原子力顯微鏡

AFM 德國 Nano analytik（ParcanNano）高速原子力顯微鏡

簡介：
公司以的針尖技術(shù)為核心競爭力，技術(shù)源自于德國伊爾默瑙工業(yè)大學(xué)，致力于主動式針尖技術(shù)在微納米結(jié)構(gòu)制備和表征方面的研發(fā)，及其相關(guān)設(shè)備的產(chǎn)業(yè)化。

NanoMETRONOM是公司開發(fā)的一款性的新型AFM系統(tǒng)。它使用主動式智能針尖，集傳感器、驅(qū)動器和可功能化的針尖于一身，實現(xiàn)自激發(fā)和自傳感，無需復(fù)雜的激光校準(zhǔn)，是取代現(xiàn)有AFM激光傳感的巨大改進(jìn)。該系統(tǒng)可在大氣、液態(tài)及真空環(huán)境下實現(xiàn)對微納米結(jié)構(gòu)的高速、高效表征，成像精度達(dá)到0.2納米的極限精度。

產(chǎn)品擁有像美國麻省理工學(xué)院、加州伯克利國家實驗室、荷蘭德爾夫特大學(xué)和清華大學(xué)等國內(nèi)外科研客戶，以及韓國三星、荷蘭ASML等工業(yè)客戶。

產(chǎn)品特點：
。 大氣、真空及液態(tài)環(huán)境兼容
。 自激發(fā)自傳感智能針尖
。 快速自動進(jìn)針 無需激光調(diào)節(jié)
。 操作極其便捷 5秒快速換針
。 超高速掃描成像（100 lines/s）
。 實時光學(xué)顯微鏡定位掃描區(qū)域

應(yīng)用領(lǐng)域：
。 多領(lǐng)域表面分析
。 工業(yè)領(lǐng)域快速抽檢
。晶圓片表面質(zhì)量監(jiān)控
。 弱機械力檢測
。 質(zhì)量傳感器
。 生化檢測識別

功能指標(biāo)：