薄膜膜厚測試儀

    CHY-U薄膜膜厚測試儀采用目前世界測量領域*的技術(shù)成果，確保測量結(jié)果的高精確性，多次測量結(jié)果的高度*性；且操作調(diào)試極其方便，幾近于自動化操作，大限度地減少了人為因素對測量結(jié)果帶來的影響；并具有手動、自動兩種測量模式，對于手動模式測量，可打印輸出測量結(jié)果，對于自動模式測量，可按照預先設置好的次數(shù)自動測試，并對測量結(jié)果進行統(tǒng)計、分析、打印輸出；接觸面積、測量壓力、移動速度等嚴格遵循相關(guān)標準的規(guī)定。

    薄膜膜厚測試儀主要參數(shù)
    儀器型號：CHY-U
    其他名稱：薄膜膜厚測量儀、薄膜測厚儀、薄膜厚度儀等
    測量范圍：0-2mm （其他量程可定制）
    分辨率 ：0.1um
    測量速度：10 次/分（可調(diào)）
    測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
    接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種
    進樣步矩：0 ～ 1300 mm(可調(diào))
    進樣速度 ：0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
    外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg

    膜厚檢測方法：

    將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。