詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 隨著國家政策的推動和人們意識的增強(qiáng)，新能源汽車的普及程度正在逐漸加深中。當(dāng)然，這一情況也離不開新能源汽車技術(shù)的進(jìn)步，其中一項(xiàng)就是新能源汽車散熱技術(shù)。新能源汽車的...

詳細(xì)摘要： 隨著城市物流的蓬勃發(fā)展及對城市環(huán)境要求的日益嚴(yán)苛，新能源汽車為城市物流運(yùn)輸提供了巨大的機(jī)遇。新能源汽車電機(jī)水冷機(jī)chiller的原理說明

詳細(xì)摘要： 新能源乘用車動力總成水冷機(jī)chiller是針對新能源動力電池高低溫測試的設(shè)備，在新能源電池行業(yè)中，動力電池關(guān)系整個新能源汽車行業(yè)以及性能，所以，選擇合適的新能源...

詳細(xì)摘要： 新能源汽車已成為汽車工業(yè)未來的發(fā)展方向，氫燃料電池汽車*的特點(diǎn)，因而具有廣闊的應(yīng)用前景。在燃料電池汽車的試驗(yàn)過程中，受路面激勵、行駛速度、氣候和環(huán)境等因素影響，...

詳細(xì)摘要： 隨著新能源汽車的不斷發(fā)展，永磁同步電機(jī)冷卻裝置chiller也在不斷發(fā)展中，新能源汽車電機(jī)測試?yán)渌畽C(jī)能根據(jù)電動機(jī)、控制器測試時的動態(tài)發(fā)熱量變化，自適應(yīng)調(diào)節(jié)冷水機(jī)...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

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詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...

詳細(xì)摘要： 元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...