XelPleX全自動表面等離子體共振成像儀上市時間：2015年4月
1.創(chuàng)新的陣列式芯片設(shè)計，同一芯片可同時分析超過400組相互作用，與傳統(tǒng)的通道-技術(shù)相比，所需時間縮短百倍，并節(jié)約試劑和人力成本。

 2.成像技術(shù)，提供時空分布信息，時間判斷互作是否發(fā)生；并可判斷互作是否異常，輔助解釋有難點的數(shù)據(jù)。 

3.創(chuàng)新的流體系統(tǒng)，可直接注入復(fù)雜樣品，不易堵塞，耐受有機(jī)溶劑。拓展傳統(tǒng)SPR應(yīng)用范圍，每年節(jié)約數(shù)萬維護(hù)費(fèi)用。 

4.的表面化學(xué)技術(shù)，拓展應(yīng)用。 

5.自動化樣品回收技術(shù)，節(jié)約珍貴樣品，可將互作后樣品用于交叉驗證等實驗。 

6.樣品循環(huán)技術(shù)，可檢測低樣品濃度，并維持動態(tài)平衡。 

7.SPRi芯片-質(zhì)譜直接聯(lián)用，-無需洗脫和濃縮，即可實現(xiàn)動力學(xué)分析和物質(zhì)鑒別。 

8.多功能軟件包，全程引導(dǎo)式操作，批量處理數(shù)據(jù)及快速分類，方便調(diào)用實驗?zāi)０寮皵?shù)據(jù)處理模板。 

9.智能全自動，可實現(xiàn)72h以上無人看守實驗。

XelPleX全自動表面等離子體共振成像儀