干燥設(shè)備 粉碎設(shè)備 混合設(shè)備 反應(yīng)設(shè)備 過濾分離設(shè)備 過濾材料 滅菌設(shè)備 萃取設(shè)備 貯存設(shè)備 傳熱設(shè)備 鍋爐 塔設(shè)備 結(jié)晶設(shè)備 其它制藥設(shè)備
廣東宏展科技有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)TSL
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地武漢市
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更新時(shí)間:2022-02-22 12:10:35瀏覽次數(shù):391次
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武漢高低溫沖擊箱,宏展光纖通訊冷熱沖擊箱價(jià)格是將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的惰性氣體)中,使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。用以確定元件,設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。
武漢高低溫沖擊箱,宏展光纖通訊冷熱沖擊箱價(jià)格
TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱,溫度沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱
*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到小;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>
冷熱沖擊測試是將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的惰性氣體)中,使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。用以確定元件,設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。
二、測試參考標(biāo)準(zhǔn)
參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.22; IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202
三、試驗(yàn)用途
試驗(yàn)主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
該試驗(yàn)主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
四、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備參數(shù)
試驗(yàn)溫度范圍:-40℃~150℃
高溫設(shè)定范圍:0℃~150℃
低溫設(shè)定范圍:0℃~-40℃
溫變速率:≤5Min
內(nèi)箱尺寸:800×800×800mm
高低溫沖擊箱,宏展LCD顯示屏冷熱沖擊測試廠家
武漢高低溫沖擊箱,宏展光纖通訊冷熱沖擊箱價(jià)格
型 號(hào)
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | ||||
標(biāo)稱內(nèi)容積(升) | 80 | 150 | 200 | 300 | |||
試驗(yàn)方式 | 氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 | ||||||
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | +60~+200℃ | ||||
升溫速率※1 | +60→+200℃≤20分鐘 | ||||||
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | -78-0℃ | |||||
降溫速率※1 | +20→-75℃≤80分鐘 | ||||||
試驗(yàn)室 | 溫度偏差 | ±2℃ | |||||
溫度范圍 | TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃; TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃; TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃ | ||||||
溫度恢復(fù)時(shí)間※2 | 5分鐘以內(nèi) | ||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | ||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||
內(nèi)部尺寸(mm) | W | 500 | 600 | 750 | 850 | ||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | |||
外形尺寸(mm)※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | ||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | |||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | |||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。 | |||||||
※2恢復(fù)條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布) |
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