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參考價	面議

產(chǎn)品簡介

平行平晶-0-25 25-50 50-75 75-100 上海思長約光學(xué)

詳細(xì)介紹

平行平晶

干涉條紋

平面平晶

一、用途：

平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。

二、技術(shù)參數(shù)

1、平面平晶 POF 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格尺寸：

規(guī)格	30mm	45mm	60mm	80mm	100mm	150mm	200mm	250mm
直徑	Φ30	Φ45	Φ60	Φ80	Φ100	Φ150	Φ200	Φ250
高度	15mm	15mm	20mm	20mm	25mm	30mm	40mm	45mm

2、平面平晶制成精度：1級

3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：

直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm

直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm

更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)。 (需要定做）

4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm

5、平面平晶測量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時后進(jìn)行。

注：Ф200mm以上標(biāo)準(zhǔn)平面平晶、環(huán)形平面平晶需定做。

產(chǎn)品規(guī)格︰

*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差：組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm

組Ⅰ	平行平晶	0－25mm	4塊/組
組Ⅱ	平行平晶	25－50mm	4塊/組
組Ⅲ	平行平晶	50－75mm	4塊/組
組Ⅳ	平行平晶	75－100mm	4塊/組

平行平晶尺寸系列表

組號	0－25	25－50	50－75	75－100
1	15.00，15.12 15.25，15.39	40.00，40.12 40.25，40.37	65.00，65.12 65.25，65.37	90.00，90.12 90.25，90.37
2	15.12，15.25 15.37，15.50	40.12，40.25 40.37，40.50	65.12，65.25 65.37，65.50	90.12，90.25 90.37，90.50
3	15.25，15.37 15.50，15.62	40.25，40.37 40.50，40.62	65.25，65.37 65.50，65.62	90.25，90.37 90.50，90.62
4	15.37，15.50 15.62，15.75	40.37，40.50 40.62，40.75	65.37，65.50 65.62，65.75	90.37，90.50 90.62，90.75
5	15.50，15.62 15.75，15.87	40.50，40.62 40.75，40.87	65.50，65.62 65.75，65.87	90.50，90.62 90.75，90.87
6	15.62，15.75 15.87，16.00	40.62，40.75 40.87，41.00	65.62，65.75 65.87，66.00	90.62，90.75 90.87，91.00

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