儀器簡介:
電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點 ,電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。電子散斑干涉實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來研究物體離面形變,是計算機圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見,采用CCD攝像機,使之可采用計算機處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
實驗內(nèi)容:
1、了解電子散斑干涉原理
2、掌握干涉光路及圖像處理軟件
3、使用本系統(tǒng)來測量三維離面位移
主要配置和參數(shù):
1、激光器:氦氖激光器,632.8nm,TEM00,>1.5mW,發(fā)散角<5mrad
2、加熱用電源:電壓可調(diào)范圍:0V-110V
3、圖像采集卡:最小分辨率:640*480*16
4、分束鏡:規(guī)格:60mm*50mm*6.3mm
5、擴束鏡:f=4.5mm
6、二維平移底座:上下前后二維位置可調(diào)
7、待測物體:受熱變形和受力變形各一件
8、CCD攝像機:PAL制,電源DC12V,1000mA
9、其他:通用底座,干板架,白屏,反射鏡等