賽默飛Evolution One紫外-可見分光光度計
技術指標
基線平坦度 ±0.001 A,200–800 nm,1.0 nm SBW,平滑化
描述 Evolution One 紫外-可見分光光度計
檢測器類型 雙硅光電二極管
尺寸(長 x 寬 x 高) 593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.)
光源 氙閃光燈
產(chǎn)品線 Evolution One
光譜帶寬 1.0 nm
類型 紫外-可見分光光度計
波長范圍 190 nm 到 1100 nm
漂移 <0.0005 A/h,500 nm,1.0 nm SBW,1 小時預熱
電氣要求 100/240 V,自動選擇 50/60 Hz,蕞大 150 W
燈壽命 如果不使用實時信號,壽命 >5 年或更長
噪聲 0 A:≤0.00015 A
1A:≤0.00025 A
2A:≤0.00050 A
260 nm,1.0 nm SBW,RMS<
光學設計 雙光束(帶有樣品和參考比色皿位置);Czerny-Turner 單色器
藥典合規(guī)性測試 光度準確度 (60mg/L K2Cr2O7):±0.010A
雜散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;≤0.05%AT @ 220 nm:Nal,Kl
波長準確度:±0.5 nm(541.9、546.1 nm Hg 發(fā)射線),±0.8 nm(全范圍)
波長重復精度:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 發(fā)射線重復掃描
光度精度 1 A:±0.004 A,2 A:±0.008 A,采用可追溯至 NIST 的中性密度濾光片在 440 nm 處測得
光度顯示 -0.3 至 4.0 A
光度范圍 >3.5 A
透射比重復性 1 A:±0.0002 A
掃描縱坐標模式 Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
掃描速度 <1 至 6000 nm/min。(變量)
質保期 儀器(2年),燈(3年)
瓦數(shù) 蕞大 150 W
波長精度 ±0.5 nm(541.9、546.1 nm 汞線),±0.8 nm(190 至 1100 nm 全范圍)
波長數(shù)據(jù)間隔 10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波長重復性 ≤0.05 nm(546.1 nm 汞線,10次測量的 SD)
重量(英制) 32 lb.
重量(公制) 14.5 kg
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