SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀
應(yīng)用范圍:應(yīng)用范圍:測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測定。
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃
最小讀數(shù):0.1℃
測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X
應(yīng)用范圍:應(yīng)用范圍:測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測定。
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃
最小讀數(shù):0.1℃
測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X