上海物理光學(xué)儀器廠SGW X-4B顯微熔點儀

SGW X-4B顯微熔點儀

應(yīng)用范圍：應(yīng)用范圍：測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

性能指標(biāo)
熔點測量范圍：室溫至320℃
最小讀數(shù)：0.1℃
測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)